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天眼查App顯示，深圳佰維存儲科技股份有限公司于2024年9月30日申請了一項名為“內(nèi)存測試方法、裝置、存儲介質(zhì)及電子設備”的發(fā)明專利，專利號為CN202411381137.6。該專利涉及半導體領域，旨在通過優(yōu)化內(nèi)存測試程序，提高測試效率和準確性。

根據(jù)專利摘要，該內(nèi)存測試方法通過獲取內(nèi)存的測試程序，并指定在內(nèi)存中的第一加載區(qū)域以及測試源代碼中的各符號引用與第一加載區(qū)域的相對地址。測試程序被加載到第一加載區(qū)域后，對內(nèi)存中未使用的剩余區(qū)域執(zhí)行預設的測試項目。這種方法將測試程序限制在第一加載區(qū)域，內(nèi)存中的剩余區(qū)域被視為物理上的連續(xù)空間，從而便于測試程序?qū)ζ溥M行測試。

該專利的發(fā)明人包括孫成思、何瀚、王燦和陳穎霖，專利代理機構為北京超凡宏宇知識產(chǎn)權代理有限公司。專利的公布日期為2024年12月31日，目前處于公開狀態(tài)。

深圳佰維存儲科技股份有限公司位于廣東省深圳市南山區(qū)，專注于信息存儲技術的研發(fā)與應用。此次專利申請進一步展示了公司在半導體領域的技術創(chuàng)新實力。

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